部分信息表明，為保障測量的介電常數(shù)（ε）和損耗因數(shù)（tanδ）測量誤差不超過±1%，校準周期不應超過6個月。另有介紹提到介電常數(shù)介質損耗試驗機需每月用NIST可追溯標準件校準一次，并每季度通電2小時維持電容活性，其或許適用于測量要求嚴苛或高頻使用的工頻介電常數(shù)測量儀。同時也有一般建議指出，每年至少要校準一次，以此確保測試儀性能穩(wěn)定。

 

參照JJF1139—2005《計量器具校準周期確定原則和基本方法》，校準周期的確定，需綜合計量器具的自身特征、性能要求、使用狀況，以及制造商的建議、使用維修記錄、以往校準數(shù)據趨勢等多方面因素考量。要是測量儀用于對數(shù)據精度要求高的科研實驗，或常在高溫、高濕度等易影響儀器性能的惡劣環(huán)境中使用，又或者使用頻率頗高，那么宜縮短校準周期至6個月，甚至更短。而若其使用頻率低且使用環(huán)境穩(wěn)定良好，經多次校準驗證性能穩(wěn)定，校準周期可在合理評估后適度延長，但通常最長不宜超2年。

 

此外，實驗室依據CNAS-CL01規(guī)范運作時，校準周期由實驗室基于計量器具實際使用情形，依照科學、經濟與量值準確原則自行判定。同時需定期開展期間核查，一旦察覺儀器有測量異常或穩(wěn)定性欠佳的狀況，不管是否到校準周期，都應及時進行校準。